Сканирующий туннельный микроскоп

      Основой СТМ является очень острая игла, скользящая над исследуемой поверхностью, почти касаясь ее (зазор между иглой и поверхностью составляет менее одного нанометра). При этом вследствие туннельного эффекта между острием иглы и поверхностью образца возникает туннельный ток.

Рис 138. Схема работы

СТМ

        Сильная зависимость туннельного тока от расстояния (при изменении зазора на одну деся-тую нанометра ток изменяется в 10 раз) обеспечивает высокую чувствительность микроскопа.

Баланс иглы на столь малом расстоянии от исследуемой поверхности обеспечивается следя-щей системой, управляющей пьезоманипулятором по результатам измерения туннельного тока. Измеряя величины управляющих сигналов,определяют высоту исследуемой области, а переме-щая иглу вдоль поверхности образца, определяют профиль поверхности с точностью до отдельных атомов.

      Основанные на измерении туннельного тока изображения,получаемые с помощью этого микроскопа, дают информацию о пространственном распределении плотности электронных сос-

тояний вблизи поверхности. Образно говоря, туннельный микроскоп как бы “видит” распреде-ление электронных облаков вблизи поверхности.

 

 

 

         
 
Caeac?eeo web aecaeia e i?ia?aiie?iaaiey - eaoaeia naeoia, iaci? aecaei nooaee