Сканирующая зондовая микроскопия

      Представьте, что вам завязали глаза и попросили как можно подробнее описать некоторый предмет. Каковы будут ваши действия? Конечно, сначала вы хорошенько ощупаете его, постаравшись получить хоть какую-то информацию. При этом получить сведения о некоторых свойствах данного предмета вам, конечно же, не удастся (например, о его цвете). Тем не менее, вы сможете рассказать многое о форме предмета, его размерах, температуре, твердости, материале, из которого он сделан, и т.п.

      Принцип подобного “ощупывания” поверхности лежит в основе так называемых сканирующих зондовых микроскопов, определяющих мельчайшие неровности поверхности, ведя по ней кончи-ком сверхтонкого зонда.

      Сканирующие зондовые микроскопы обеспечивают атомарное разрешение и работают не только в вакууме, но и в газовой и жидкой среде. Сегодня они являются основным аналитич-еским оборудованием нанотехнологов

      С основными типами сканирующих микроскопов – туннельным и атомно-силовым-мы уже знакомы, так что при желании можно перечитать соответствующие параграфы первой главы, а здесь мы лишь вкратце напоминаем их суть.