Атомно_силовой микроскоп

      Сразу после изобретения туннельного микроскопа исследователи всего мира убедились, что это прибор необыкновенно замечательный, ведь до его появления еще никому не удавалось разгля-дывать поверхность с такой неслыханной точностью-атом за атомом! Однако и у СТМ есть недостаток: с его помощью можно изучать только материалы, хорошо проводящие электри-ческий ток. Поэтому когда с помощью СТМ принялись изучать непроводящие вещества, их при-шлось покрывать тонкой металлической пленкой, что было не всегда удобно.

Рис 139. Схема работы АСМ

      Но вот в конце 1986 Биннинг, один из изобретателей СТМ, предложил конструкцию нового сканирующего прибора, измеряющего не туннельный ток, а силу связей между атомами вещест-ва. Новый прибор был назван атомным силовым микроскопом. В нем регистрируют изменения силы притяжения иглы к поверхности. Игла расположена на конце кантилевера, способного изгибаться под действием небольших межатомных сил,которые возникают между исследуемой поверхностью и кончиком острия. Зонд “ощупывает” поверхность образца практически в буквальном смысле слова.

      Мельчайшие отклонения кантилевера детектируются с помощью лазерного луча,отражаю-щегося от его тыльной поверхности на фотодиод. По изменению показаний фотодиода судят

о рельефе исследуемого объекта.